promex BASIC FAST是實驗室測量的入門級產品。由于配備了數碼相機和遠心鏡頭，該系統能保證快速測量。這種即插即用的解決方案與計算機相連后即可進行測量。通過使用翻轉功能，可以通過手動翻轉試樣來測量更大的斷面。試樣制備要求:無毛刺、扁平和矩形。其他優勢/特點:用于生產環境或實驗室的高性價比型材斷面測量系統測量周期只需3-5秒可連接筆記本電腦所有測量結果均可進行數據記錄，將來可進行歷史分析 虛擬量規對齊promex ADVANCED FAST是面向實驗室測量或直接在擠出線現場進行測量的組合解決方案。

　　ET200A基于Windows 操作系統為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半 導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現高精度表面形貌分析應用。ET200A 能可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力等多種表面形貌技術參數。 ET200A配備了多種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設計，可直接觀察到探針工作時的狀態，更方便準確的定