微力學(xué)測(cè)試與組裝系統(tǒng)FT-MTA03FT-MTA03集納米壓痕儀、微拉力儀、輪廓儀和通用微觀結(jié)構(gòu)分析儀的功能于一體，其測(cè)力范圍為200mN，力學(xué)分辨率可達(dá)0.5nN（9個(gè)數(shù)量級(jí)），可在三軸方向測(cè)量0.1nm至29mm的位移（8個(gè)數(shù)量級(jí)）。FT-MTA03配置高分辨率顯微鏡，具有95mm的極高工作距離，可在樣品上方180旋轉(zhuǎn)。配備3百萬(wàn)像素CMOS USB相機(jī)，可選擇同軸透鏡照明、環(huán)形光和漫射背光三種可調(diào)LED照明原理。FT-MTA03輕巧便捷，尺寸僅有44x39x46（cm），適用于水平測(cè)試，垂直測(cè)試或從

　　FT-NMT04納米力學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)是一款可在SEM/FIB中對(duì)微納米材料和結(jié)構(gòu)的力學(xué)性能進(jìn)行原位、直接而準(zhǔn)確測(cè)量的納米機(jī)器人系統(tǒng)。測(cè)試原理是通過(guò)微力傳感探針對(duì)微納結(jié)構(gòu)施加可控的力,同時(shí)采用位移記錄器來(lái)測(cè)量該結(jié)構(gòu)的形變。從測(cè)得的力和形變(應(yīng)力-應(yīng)變)曲線可以定量地分析微納米結(jié)構(gòu)的力學(xué)性能。通過(guò)控制加載力的大小和方向,可實(shí)現(xiàn)拉伸、壓縮、斷裂、疲勞和蠕變等各種力學(xué)測(cè)試。同時(shí),其配備的導(dǎo)電樣品測(cè)試平臺(tái)可以對(duì)微納米結(jié)構(gòu)的電學(xué)和力學(xué)性能進(jìn)行同步測(cè)試。絕大多數(shù)的納米力學(xué)測(cè)試都需要復(fù)雜的樣品制備過(guò)程。為了使樣品制備簡(jiǎn)單

　　IIT-200 儀器化壓入試驗(yàn)機(jī)（壓痕儀）用于測(cè)量材料在壓頭的壓力作用下，壓入載荷和壓入深度的曲線，如下1.龍門結(jié)構(gòu)機(jī)架，采用龍門架構(gòu)，大幅提高剛性；2.使用力范圍大，精度高；3.壓頭下移速度可設(shè)定；4.位移分辨率高，達(dá)到0.1微米；5.壓頭可多樣化，按用戶要求定制；6.加、卸載控制方式可按用戶定制。儀器化壓入試驗(yàn)機(jī)IIT-200壓痕儀主要技術(shù)參數(shù)：1.試驗(yàn)力范圍：3-200公斤；2.力值誤差：小于1%；3.壓頭行程：不小于5毫米；4.壓頭下移速度范圍：0.001-0.1mm/S5.位移分辨率：0.1微米

　　FEMTOTOOLS納米壓痕儀|FT-I04納米壓痕儀簡(jiǎn)介：FT-I04納米壓痕儀是一種高分辨率的納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)，能夠在微尺度和納米尺度上準(zhǔn)確量化材料的機(jī)械和摩擦學(xué)特性。作為基于MEMS的納米壓頭，F(xiàn)T-I04使用FemtoTools微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）技術(shù)。利用二十多年的技術(shù)，該納米壓痕儀具有良好的分辨率，可重復(fù)性和動(dòng)態(tài)穩(wěn)定性。FT-I04毫微微壓痕儀針對(duì)金屬，陶瓷，薄膜和涂層以及更順應(yīng)的微觀結(jié)構(gòu)例如超材料。此外，F(xiàn)T-I04是模塊化的，可以擴(kuò)展其功能，以適應(yīng)各個(gè)研究領(lǐng)域的多功能需求。典型的應(yīng)用包括