所屬系列：ZJYQ-GYXWSEM-ZEISS
相關說明：上海鑄金分析器有限公司可根據用戶的實際情況，提供“場發射掃描電鏡”相關方案。本站信息僅供參考，相關產品可能存在已停產、升級、變更等情況，不保證相關信息的及時、準確。本公司支持新廣告法及其它法律法規，已盡量避免相關詞語及違法違規信息，但頁面信息較早眾多，某些詞僅是在某特定時期、特定環境、限定范圍內的描述，請勿誤解。當然，也不排除錄入錯誤、漏刪、被惡意攻擊篡改等可能性。為避免誤解，在此鄭重聲明，上海鑄金分析儀器有限公司所有網頁上的絕對化用詞與功能性用詞全部失效。如您介意，敬請忽略相關文字、聯系鑄金更改或直接離開本站。更多信息可閱讀本站首頁（或 關于鑄金 菜單下）“網站聲明”。如您對“蔡司場發射掃描電鏡Sigma系列”有需求可聯系鑄金或廠家獲取更新更準確信息。
021-3640073913391253866
電話咨詢
利用成熟的 Gemini 電子光學元件，將佳的分析性能與場發射掃描技術相結合。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間：設置成像與分析步驟，提率。
Sigma
300 性價比高。Sigma 500 裝配有背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。樣品均可獲得更精準可重復的分析結果。
蔡司場發射掃描電鏡Sigma系列落地式掃描電子顯微鏡特點：
l用于清晰成像的靈活探測
*利用探測術為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。
*利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。
*利用新一代的二次探測器，獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 的 C2D 和 可變壓力探測器，在低真空環境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。
l自動化加速工作流程
*4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環境中，從快速成像和節省培訓先，先對樣品進行導航，然后設置成像條件。
*先，先對樣品進行導航，然后設置成像條件。
*接下來對樣品感興趣的區域進行優化并自動采集圖像。后使用工作流程的后一步，將結果可視化。
l分析型顯微鏡
*將掃描電子顯微鏡與基本分析相結合：Sigma 的背散射幾何探測器大大提升了分析性能，特別是對電子束的樣品。
*在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數據。
*獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無陰影的分析結果。
