VERTEX70v為要求嚴(yán)格的分析和研究應(yīng)用提供了超高性能。新的設(shè)計(jì)成就了該系列譜儀較佳的靈活性和優(yōu)良的性能。數(shù)據(jù)采集使用delta-sigma自激型數(shù)/模轉(zhuǎn)換器，該轉(zhuǎn)換器具備真正的24位ADC動(dòng)態(tài)范圍。布魯克DigiTect將此數(shù)模轉(zhuǎn)換器與檢測(cè)器自帶的電子前置信號(hào)放大器整合到一起。更大限度地避免了外界模擬信號(hào)對(duì)光譜的干擾，確保了較佳的信噪比。
全真空光學(xué)臺(tái)設(shè)計(jì)
其全真空的光學(xué)設(shè)計(jì)，使布魯克傅立葉變換紅外光譜儀VERTEX 70v在中紅外、近紅外及遠(yuǎn)紅外譜區(qū)具備高的靈敏度，使用戶無(wú)需再擔(dān)心水蒸氣或二氧化碳的吸收會(huì)干擾或覆蓋譜圖中極弱的特征信號(hào)。該真空譜儀已被廣泛應(yīng)用于納米科學(xué)領(lǐng)域，并成功獲取了亞單分子層薄膜的信息。
BRUKER FM FIR-MIR 光譜
布魯克FM技術(shù)，只需一次測(cè)量，即可獲得6000 cm-1 至 50 cm-1 的中遠(yuǎn)紅外波段全譜。擁有它，無(wú)需再轉(zhuǎn)換任何光學(xué)元件。
寬光譜范圍
通過(guò)采用不同的光學(xué)配件，布魯克傅立葉變換紅外光譜儀VERTEX 70v 可以覆蓋從遠(yuǎn)紅外 10 cm-1 到紫外光區(qū) 28.000 cm-1 的超寬光譜區(qū)域。永久準(zhǔn)直的 RockSolidTM 高性能干涉儀使不同譜區(qū)的切換變得十分快捷簡(jiǎn)易，無(wú)需重新調(diào)整光路準(zhǔn)直。
人工智能系統(tǒng)
人工智能系統(tǒng)包含自動(dòng)識(shí)別測(cè)量附件、自動(dòng)識(shí)別光學(xué)配件、自動(dòng)調(diào)用及檢查測(cè)量參數(shù)，使得傅立葉紅外光譜測(cè)量變得更簡(jiǎn)單、更快速且更可靠。另外，實(shí)時(shí)在線監(jiān)控系統(tǒng)徹底簡(jiǎn)化了對(duì)儀器工作狀態(tài)和性能指標(biāo)的監(jiān)測(cè)工作。一體化的軟件包將支持上述功能。
即插即用：使用簡(jiǎn)便
無(wú)論何時(shí)何地，只要插上電源，連接以太網(wǎng)，布魯克傅立葉變換紅外光譜儀VERTEX 70v即可開始正常工作。VERTEX 70v光譜儀采用了以太網(wǎng)式連接，客戶可以通過(guò)局域網(wǎng)或互聯(lián)網(wǎng)對(duì)譜儀進(jìn)行遠(yuǎn)程操控。
VERTEX 70v 研究級(jí)傅立葉變換紅外光譜儀以其優(yōu)良的性能和較佳的靈活性，成為當(dāng)前常規(guī)分析應(yīng)用以及尖科學(xué)研究的較佳選擇。
VERTEX 70v真空光譜儀非常適用于需要高靈敏度、高穩(wěn)定性和高時(shí)間分辨率的研究應(yīng)用。低至遠(yuǎn)紅外/太赫茲的光譜范圍，使之還適用于工業(yè)領(lǐng)域的特定應(yīng)用。多功能VERTEX 70v系統(tǒng)通過(guò)與適當(dāng)?shù)母郊跋鄳?yīng)的測(cè)試技術(shù)相結(jié)合，可為FTIR光譜分析領(lǐng)域幾乎所有需求提供解決方案。
研發(fā)
-
用于時(shí)間分辨以及幅度調(diào)制（AM）相位調(diào)制（PM）光譜的連續(xù)和步進(jìn)掃描技術(shù) (步進(jìn)掃描/快速掃描/交叉掃描時(shí)間分辨光譜 TRS)
-
超高真空中的FT-IR光譜分析
-
用于電極表面和電解質(zhì)的原位研究的FT-IR光譜電化學(xué)
-
蛋白質(zhì)水溶液研究 (CONFOCHECK)
-
確定分子的絕對(duì)構(gòu)型 (VCD)
制藥
-
通對(duì)藥物產(chǎn)品的穩(wěn)定性和揮發(fā)物含量進(jìn)行表征
-
遠(yuǎn)紅外譜區(qū)區(qū)分活性藥物成分的多晶型物
聚合物與化學(xué)
-
遠(yuǎn)紅外譜區(qū)識(shí)別聚合物復(fù)合材料中的無(wú)機(jī)填料
-
聚合物動(dòng)態(tài)和流變學(xué)研究
-
測(cè)定揮發(fā)性化合物及表征熱分解過(guò)程
-
反應(yīng)監(jiān)測(cè)和反應(yīng)控制 (中紅外光纖探頭)
-
識(shí)別無(wú)機(jī)礦物質(zhì)和顏料
表面分析
-
薄膜和單分子層檢測(cè)與表征
-
結(jié)合偏振調(diào)制進(jìn)行表面分析
材料科學(xué)
-
光學(xué)和高反射材料（光窗、反射鏡）的表征
-
通過(guò)光聲光譜學(xué)（PAS）研究深色物質(zhì)和深度剖析
-
材料的發(fā)射行為表征
半導(dǎo)體
-
硅晶圓中氧和碳含量的測(cè)定進(jìn)行質(zhì)量控制
外部附件、源和探測(cè)器
VERTEX 70v 真空光譜儀配備五個(gè)光束出口端口和兩個(gè)光束輸入端口，可隨時(shí)升級(jí)具有外部測(cè)量附件、源和探測(cè)器的系統(tǒng)。這包括以下內(nèi)容：
-
用于VCD和PM-IRRAS的PMA50偏振調(diào)制附件
-
PL II 光致發(fā)光模塊
-
RAM II FT-拉曼模塊和RamanScope III FT-拉曼顯微鏡
-
TGA-FT-IR 聯(lián)用
-
HYPERION系列FTIR顯微鏡
-
HYPERION 3000 FT-IR 成像系統(tǒng)
-
HTS-XT 高通量篩選eXTension
-
IMAC 焦平面陣列宏觀成像附件
-
外部樣品室XSA（真空或吹掃）
-
外部真空密閉的超高真空腔室（UHV）
-
真空PL/PT/PR測(cè)量單元
-
帶中紅外或近紅外光纖探頭的光纖耦合單元（用于固體和液體）
-
大型積分球
-
自動(dòng)進(jìn)樣器
-
外接遠(yuǎn)紅外Hg燈光源
-
寬帶中紅外-遠(yuǎn)紅外分束器和檢測(cè)器
-
外部發(fā)射適配器
-
外部高性能中紅外光源
-
外部真空4位檢測(cè)器腔
-
適用于遠(yuǎn)紅外光譜范圍的輻射熱測(cè)量計(jì)
