所屬系列：ZJYQ-GUYQOPA-NCS
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LIBSOPA 200激光光譜原位分析儀分析原理：
樣品表面被高能激光擊穿形成等離子體，等離子體光線經過濾波,分光之后被多通道的光電倍增管檢測系統檢測。根據光譜特征譜線波長得出被擊穿位點的元素種類;定標后對應譜線的強度表示被擊穿位點元素的濃度。借助精密三維移動平臺在樣品激發表面很好的定位和記錄，實現任意點掃描，一維線性掃描，一維深度分析和二維面掃描分析，并據此獲得與材料原位置相對應的各元素原始含量及狀態信息，可以用統計解析的方法定量表征材料的偏析度、疏松度等信息。該方法不但有激光光譜的非接觸分析、微區分析、深度分析的優點，又具備原位統計分布分析技術的原位性和統計性。LIBSOPA-200的研制成功為材料成分分析、缺陷分析、涂鍍層等樣品的分析應用提供了新的技術手段及質量判據。
LIBSOPA 200激光光譜原位分析儀儀器特點：
1. LIBS技術與OPA技術結合的分析儀器。
LIBSOPA 200激光光譜原位分析儀主要技術參數：
真空光學系統：巴邢—龍格架法
